27卒
2026/02/17 公開
1.材料評価領域:評価・分析・解析技術や材料試験技術に関する領域。
(1) 電子顕微鏡(SEM, TEM, STEM)、X線回折(XRD)、X線光電子分光(XPS)など、電子線・X線を用いた材料分析・評価。
(2) 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)、3次元アトムプローブ(3DAP)、誘導結合プラズマ発光・質量分析などによる金属・無機・有機材料の化学分析。バイオ系材料の分析・評価。
(3)極低温環境下における計測技術の開発および材料物性評価・解析。液体ヘリウムの製造、液体水素・液体窒素の供給。
(4) 金属材料のクリープ試験・極低温環境疲労試験など、材料信頼性確保のための評価・解析。
2. 材料創製領域:半導体等の薄膜からナノデバイスを創成する微細加工技術、金属材料を中心とした材料の溶解・鋳造、加工技術技術に関する領域。
(1) 半導体等の成膜プロセスと電子線リソグラフィ等によるナノデバイス加工。作製したデバイスの形状観察・電気計測などによる評価・解析。
(2) 金属材料の溶解、鍛造、圧延、熱処理、機械加工などの技術を用いた新規材料の創製及び加工。